X-射线荧光光谱/XRF

一种能快获得材料中化学成分信息的无损分析方法，适用于各种形态的样品（包括固体、粉末、颗粒、液体等）。

设备型号：ATLAS 

生产厂商：IXRF SYSTEMS

特点

检测速度快，数分钟内就可获得材料的组成信息 （元素检测范围：Na~U）

· 主要应用：未知物分析，牌号鉴定

取样面积小，最小取样面积5um

· 主要应用：分辨微小区域的组成比例分布，可做微区面扫描分析（mapping）

测量重现性高，主元素RSD<0.5%

· 主要应用：材料研发，工艺调整，反向工程。